반사 행렬 기반 다중 산란 추적 알고리즘을 이용하여 산란 매질 내 대상 이미지를 보정 및 복원하는 이미징 장치 및 방법

2025 / 등록 / 특허 / 고려대학교산학협력단;기초과학연구원;고려대학교산학협력단;기초과학연구원;고려대학교산학협력단;기초과학연구원;고려대학교산학협력단;기초과학연구원;고려대학교산학협력단;기초과학연구원 / (7765051) / 일본